A出现在第一次底波之前
B出现在第一次底波之后
C没有缺陷回波,只有底波降低或消失
D以上都有可能
在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的()作用,使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。
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在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的叠加作用,致使小缺陷多次反射回波高度常常是第二次要比第一次高
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大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时,如无缺陷,则探伤图形中只有发射脉冲和底波,如发现缺陷,则在底波之前显示()。
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焊瘤多在单面焊的根部,当探头从两侧探伤时都能发现,其缺陷波在一次波位置的()。
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用直探头探测一个厚度为350mm的钢制锻件,在150mm处发现一个平底孔当量为Φ2mm的缺陷,该缺陷回波高度比基准波高要高出8dB,求所用的探伤灵敏度。所用的探伤灵敏度为Φ3mm平底孔当量
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方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是()。
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直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈()。
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计算题:用k2探头探伤板厚为15mm对接焊缝,按水平1:1定位,在示波屏刻度板上水平刻度50mm处发现缺陷回波,求此缺陷位置?
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探伤前必须调校仪器的灵敏度,探头置于试块上,主声束垂直扫查人工缺陷,找出(),将反射回波的幅度调到标准要求的高度。
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