局部放电的损耗使介质损耗值增加。（）

在高于起始放电电压时，绝缘的介质损耗会随电压的增加而（）。因此，用测量介质损耗的方法，可以探测设备的局部放电，即所谓测量绝缘的（）。但这种方法的灵敏度较低。

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当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应（）。

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当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。

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介质损耗随温度的增加而增大。这是由于温度高，（）导致介质损耗增加。

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当绝缘介质一定，外加电压一定时，介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成（）。

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对一台66kV，8000kVA的变压器进行介质损耗测量时，若试验方法，试验环境相同，且测量值换算至同一温度后，测量结果若逐年增加，并排除了外界条件的影响，可说明什么问题？

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测量介质损耗角正切值有何意义？

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某试验站采用西林电桥测量绝缘套管的介质损耗正切值tanδ，采用的电压频率f=50Hz，电桥内的电阻R4取3184Ω，调节电阻R3及电容C4使检流计指零，此时电容C4的电容量为0.08μF，则介质损耗正切值tanδ为（）。

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当设备各部分的介质损耗因数差别较大时，其综合的tgδ值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数值。

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