A补偿中子
B井径
C2.5m底部梯度
D微球聚焦电阻率
测井曲线确定的技术套管深度与技术套管的允许测量误差为()。
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用电阻率曲线确定的表层套管鞋深度与套管鞋的深度误差应小于()。
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测井曲线确定的表层套管深度与表层套管的实际下深误差不应大于()m。
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2.5米底部梯度电阻率进套管时有一屏蔽尖,此为测量的套管鞋深度;套管下的较深(技套),屏蔽尖出不来,可用曲线回零时的半幅点向上推2.5米即为套管深度。表层与技术套管的允许测量误差为()。
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深度比1:500的曲线不能连续缺乏2个记号。
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校深后的测井曲线与基准曲线的深度误差不能超过()m。
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下列哪种方法不能用于检查套管质量?()
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套管井中,磁测井井径仪测量的是()随井深变化的曲线,经过刻度可直接输出井径变化曲线。
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()测井仪进套管时有一屏蔽尖,此为测量的套管鞋深度。
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