不论什么样的放电，都是由于绝缘材料耐受不住外施（）所形成的电场强度所致。
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局部放电对绝缘的破坏速度即电老化速度，影响电老化速度的因素很多，除了电介质本身的特性之外，还有（）影响因素。
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测量绝缘介质损tgδ能反映绝缘本身状态，同时又能反映绝缘由良好状态向劣化状况转化过程。
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测定电气设备在不同电压下的局部放电强度和发展趋势，就能判断绝缘内是否存在局部缺陷以及介质老化的速度和目前的状态。
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在电场作用下，电介质所发生的极化现象中，多发生于采用分层介质或不均匀介质的绝缘结构中；极化的过程较缓慢，极化时间约几秒、几十秒甚至更长，发生于直流及低频（0～1000Hz）范围内，需消耗能量的极化，称为（）式极化。
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直流电压作用下流过绝缘介质的电流，（）是由于在电场作用下介质分子的快速极化过程形成的位移电流。
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介质的绝缘电阻随温度升高而（），金属材料的电阻随温度升高而（）。
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介质的绝缘电阻随温度升高而减少，金属材料的电阻随温度升高而增加。（）
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介质的绝缘电阻随温度升高而减少，金属材料的电阻随温度升高而增加。
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