搭配显微镜使用的缺陷表面放大照像其放大倍率为：整体放大倍率=（）x（）
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如何进行放大照像与近距离照像？
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射线照像影像会放大，下面叙述中正确的是（）
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因为漏磁场的宽度比缺陷的实际宽度大数倍至数十倍，所以磁痕对缺陷宽度有放大作用。
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JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。
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在渗透检测过程中，显像剂从缺陷中吸取渗透液到试件表面並扩展、放大的过程称为（）。
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采用照像记录被检物表面缺陷时，应注意在被检物上不妨碍察看缺陷的位置安放（）
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目视检测显微镜的放大率为（）
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由于射线照相存在影象放大现象，所以底片评定时，缺陷定量应考虑放大的影响。
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