涡流方向与缺陷方向平行时，缺陷检出率（）
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描述（）的曲线，又称实用AVG曲线，在调节探伤灵敏度和对缺陷定量中得到了广泛应用。
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如果容易地检出缺陷，涡流的流向要：（）。
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磁粉探伤中为了有效地检出试件的表面缺陷，宜采用（）电流磁化试件。
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根据GB/T11260-2008中 的要求，涡流探伤系统连续运行（）小时，应采用对比样棒进行一次灵敏度的校验。
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使用A型灵敏度试片进行磁粉探伤时，应将试片（）的一面与零件探伤面紧贴31.涡流检测中的涂层测厚最常见的是利用（）效应。
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单晶片直探头接触法探伤中，与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为（）。
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下列（）缺陷能用磁粉探伤检出。
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能用磁粉探伤检出的缺陷是（）。
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