AX射线的强度
B底片的黑度
C材料的密度
D辐射剂量
毫特斯拉计是测量磁场方向的一种测量仪器。
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黑度计和光学密度计是两种不同类型的测量仪器。
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透度计是用来()的
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DIN5419所采用的像质计是()
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使用透度计是为了达到什么目的?()
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像质计是用来鉴定()
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常用的像质计是()。
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有一老旧之X光机,其曝光表已不准确,今拟利用底片特性曲线图及阶梯块制一新曝光表,照相条件为SFD=80cm,铅增感屏,使用Type II型底片,洗相温度均25℃,所要求的底片黑度为2.5。现使用160KV,5mA,2min,按上述条件曝光、底片冲洗,测量阶梯块两种不同厚度底片上的黑度如下:阶梯块厚度1/4英寸--底片黑度3.0;阶梯块厚度1/2英寸--底片黑度1.6。
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有一老旧之X光机,其曝光表已不准确,今拟利用底片特性曲线图及阶梯块制一新曝光表,照相条件为SFD=80cm,铅增感屏,使用Type II型底片,洗相温度均25℃,所要求的底片黑度为2.5。现使用160KV,5mA,2min,按上述条件曝光、底片冲洗,测量阶梯块两种不同厚度底片上的黑度如下:阶梯块厚度1/4英寸--底片黑度3.0;阶梯块厚度1/2英寸--底片黑度1.6。
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