被检件中缺陷的取向与超声波的入射方向（）时，可获得最大超声波反射。

在超声检测中，当缺陷的取向与超声波入射方向（）时，能获得最大的超声波反射。

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工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。

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超声波检测时要求声速方向与缺陷取向（）为宜

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显像时间取决于渗透剂和显像剂的种类、缺陷的大小及被检件的温度。

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一种超声波探伤仪可直观显示出被检工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度，这种仪器显示是（）

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由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因，在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度，这个由于几何原因引起的不清晰度称为（）

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工件被磁化的重要原则是：尽量使磁力线与被检缺陷的延伸方向垂直（或相交）

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射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

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用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）

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