单选题

探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面探伤不利。

A增加

B减小

C不变

正确答案

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答案解析

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  • 探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面的缺陷探测不利。

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  • 探头晶片尺寸增加,近场区长度增加,对探伤不利。

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