A芯样试件高度小于0.95d或大于1.05d时(d为芯样试件平均直径);
B沿试件高度任一直径与平均直径相差2mm以上时;
C试件端的不平整度在100mm长度内超过0.1mm时;
D试件端面与轴线的不垂直度超过2°时。
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