底片上常见伪缺陷产生的原因是什么？
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磁场方向与发现缺陷的关系是什么？
分析缺陷性质的基本原则是什么？
什么是缺陷反射法？
什么是缺陷指示长度？
什么是连续法？其应用范围是什么？
什么是当量尺寸？缺陷的当量定量法有几种？
缺陷磁痕可分为几类？每种缺陷磁痕的特征是什么？
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