用A型标准试片可以估计（）。

用A型标准试片可以估计磁场强度的大小。

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A型标准试片上施加磁粉是用剩磁法进行的。

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A型标准试片上施加磁粉是用（）进行的。

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磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片，它表示（）。

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灵敏度标准试片的使用可以了解探伤面上的（）和（）。

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使用A型灵敏度试片进行磁粉探伤时，应将试片（）的一面与零件探伤面紧贴31.涡流检测中的涂层测厚最常见的是利用（）效应。

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有时用镀层裂纹试片来比较灵敏度，试片上通常有一层脆性镀层，这些试片上的裂纹产生（）。

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灵敏度标准试片可用来测定磁粉探伤系统的综合性能和磁粉性能。

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用悬臂弯曲模弯曲镀层朝下的试片，产生的裂纹聚集在一起，接近夹持端的裂纹较密集

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