材料晶粒尺寸增大，对超声波探伤的主要影响是（）。
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材料晶粒尺寸增大，对超声波探伤的主要影响是（）。
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（）系指超声波探伤工件时在最大测距上可以检出缺陷的最小尺寸。
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在检验粗晶材料时，最易在晶粒界面上产生散射的超声波频率是（）。
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锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起什么现象？
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在超声波探伤中，（）的1/2左右的缺陷尺寸为探测极限。
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超声探伤，能够探测的缺陷尺寸，一般不小于一个波长。
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超声波探伤，应用人工反射体参考试块，主要目的是提供确定缺陷尺寸的方法。
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探头晶片尺寸（），半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利。
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