CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）

CSK-ⅢA试块的反射体孔径是φ1×6。

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试块的最小几何尺寸根据（）。

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使用对比试块的主要目的是（）。

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简述试块的主要用途是什么？

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试块是用于探伤系统性能测试或灵敏度调整的试块。试块的材质、形状、尺寸（）。

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CSK-ⅢA试块的反射体孔径是（）。

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用试块的方法标准探测灵敏度时，为避免修正，则应采用（）。

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下列试块的叙述与JB/T4730.5-2005相符合的是：（）

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用试块的方法校准仪器探测灵敏度时，为避免修正，则应采用（）。

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