A不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据
B不能比较两种不同透照技术的质量高低；
C不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示
D不能验证所用透照工艺的适当性
射线探伤时，使用像质计的主要目的是（）。
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像质计的放置原则是什么？
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什么是使用象质计的局限性（）
像质计的功用是（）
目前ASME规范的像质计的三个孔径大小是（）
线型像质计的像质指数Z和金属丝直径d之间的关系是（）
JIS线条型像质计的线条（）
像质计的材质应为（）
下面有关像质计的叙述中，正确的是（）
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