对于表面不太平整，曲率较大的工件，为了减小耦合损失，宜选用大晶片探头。

对于厚度差较大的工件进行透照时，为了得到黑度和层次比较均匀的底片，一般做法是（）

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对于厚度差较大的工件进行透照时，为了得到黑度和层次比较均匀的底片，一般的做法是（）

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用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）

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透照厚度差别较大的工件时，为了增大宽容度，可以采用（）方法。

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探测粗糙表面的工件时，为了提高声能的传递，应选用（）。

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对于表面光滑的工件，选择湿式显像比干式效果好。

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一般对于有腐蚀的工件的表面检测，磁粉检测通常优于渗透检测。

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为了在工件中得到纯横波，对于斜探头的选择应考虑（）

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预清洗的目的是为了保证渗透剂能最大限度渗入工件表面开口缺陷中去。

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