采用Histogram进行监控的参数在什么条件下可转为使用X-R Chart进行监控？
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产品某参数在进行Qualify时Cpk=1.25，请问该参数在何种条件下可采用X-RChart进行监控？
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产品的某一参数在进行Qualify时Cpk=0.93，请问该参数可采用什么图进行监控？
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Lafe使用Product X-R Chart进行监控的参数，一般要求CPK>=1.33，请问这有什么好处？
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某一个参数的CPK
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当产品参数的工序能力1£CPK
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Cpk的大小与以下哪几个参数有关？（）
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若某工序参数CP>2而CPK
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某产品工序参数Qualify时CP=2，CPU=1.8，CPL=1.2则该工序参数的CPK等于（）。
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