直探头从端部探测细棒状工件时，在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生（）所致。

直探头从端面对长条形工件探伤时，容易产生（）。

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大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）。

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在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。

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在使用2.5MHz直探头做锻件探伤时，如果400mm深底波调整φ3mm平底孔灵敏度，底波调整后应提高多少dB探伤？（晶片直径D=14mm）（）

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直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。

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直探头垂直扫查“矩形锻件”时，工件底面回波迅速降低或消失的原因是（）。

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直探头探伤，反射体距离小于三倍近场区长度时，校准探测灵敏度应采用（）。

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直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。

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用直探头探测焊缝两侧母材的目的是（）

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