在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的磁通密度无关

在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的磁通密度有关

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在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关

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在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向无关

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在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的（）有关；与缺陷的（）和（）有关

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在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的（）有关，与缺陷的（）和（）有关

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磁粉探伤的核心在于能够在试件缺陷附近形成足以吸附一定量的磁粉而呈现磁痕的漏磁场

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相关显示是由缺陷产生的漏磁场吸附磁粉形成的，非相关显示不是由漏磁场产生的。

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由磁粉探伤理论可知，磁力线在缺陷处会断开，产生磁极并吸附磁粉。（）

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磁粉探伤是利用在试件上能建立一定大小的（），并在缺陷附近形成一定大小的（），且足以吸附一定量的（）而呈现磁痕，以显示缺陷的存在的探伤方法

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