测量系统的稳定性是表示测量系统随（）的偏倚值。

稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下，是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。

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测量系统的线性是标识在量具正常（）内的偏倚变化量。

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所谓测量系统的偏倚（Bias）是指：（）

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测量系统的五个特性是（）再现性偏倚线性稳定性。

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测量系统的稳定性分析最好的方法是通过（）控制图来实现的。

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GageR&R小于10%时，表示测量系统可接受，GageR&R在（）时，表示测量系统也许可用，也许要改善。GageR&R大于等于30%时，表示测量系统完全不可用，数据不能用来分析。

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做测量系统分析的零件应产生于稳定的生产过程；

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测量系统应处于统计受控状态意味着在重复测量条件下，测量系统中的变差只能由（）造成，而不能由特殊原因造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性，并且可以通过（）法最佳地进行评价。

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如果生产稳定，此时影响产品质量差异的主要成份将是系统误差，如果把测量到的质量数据绘制成分布图，必然构成典型的正态分布（）

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