在X荧光分析中，已知某元素A，其分析强度Ia与浓度Ca保持线性关系，现称取含A元素的M试样2.0000克，试样制成玻璃片后，测得元素A的荧光强度I2为8Kcps；再称取M试样2.0000克，加入A元素0.0100克，制成玻璃片后，测得元素A的荧光强度I2为14Kcps，求M试样中A元素的质量百分数。

X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。

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X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。

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影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。

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X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。

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在X射线荧光光谱分析中，制作玻璃片使用的坩埚及模具的材料主要是（）其比例是95%：5%。

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在X荧光分析中不常使用的探测器是（）。

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在X荧光分析中，以下样品的哪个因素不属于物理效应。（）

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在X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应（）。

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在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是（）。

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