磁粉探伤法适用于（）性材料

磁粉探伤是检测铁磁性材料（）及（）缺陷的一种无损检测方法，适用于（）性材料。

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干粉法磁粉探伤适用于（）的工件，所用磁粉的颗粒应适当比湿磁粉（），磁粉和工件都应当进行（），并在温度略比（）高的情况下进行

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磁粉检测法适用于（）性材料。

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磁粉探伤方法适用于检测点状缺陷和平行于表面的分层。

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磁粉探伤方法适用于检测点状缺陷和平行于表面的分层。

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磁粉探伤法只能用于铁磁性材料

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磁粉探伤法可以用于检查导电材料

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波长为（）～（）m的紫外光适用于荧光磁粉探伤

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波长为（）～（）m的紫外光适用于荧光磁粉探伤-10

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