双晶探头用于探测工件（）缺陷。
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在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
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表面波探头用于探测工件表面缺陷。
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表面波探头用于探测工件（）缺陷。
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频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
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收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
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检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
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表面波探头用于探测工件（）。
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探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
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