A对
B错
X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素。
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()
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X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。
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在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
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在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关。
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采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。
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在X射线荧光分析中,重元素谱线复杂而且较为接近,所以要选择()准直器以提高分辨率。
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在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度直接影响()
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