A存储型
B取样型
C短余辉型
D双线型
当一个部件的检验在缺陷指标上的评价结果与相关规定相符并确认该部件可以继续使用时,则在随后的()检查期中每一期内,都必须重复检验该部件含有这种缺陷的相同部位,并把它作为最初的大纲进度中的一项附加要求。
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下列缺陷中,哪种缺陷最不容易在磁粉检验时发现()。
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为了检验空心零件内壁上的纵向缺陷,应当()。
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为了检验空心零件内壁上的纵长方向缺陷,应采用():
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对交流做半波整流是为了能够检验()缺陷
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对交流做半波整流是为了更好地检验()缺陷:
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为了降低缺陷漏检概率需要对检验人员进行细致培训。
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对交流做半波整流是为了能够有利于检验表面的缺陷
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对交流做半波整流是为了能够有利于检验近表面的缺陷
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