在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位视差法。

所谓对比度，就是指一张射线底片上两个相邻区域之间的黑度差。

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当用观片灯观察底片时，为了获得更直观的效果，在曝光时采用不同方向摄取两张底片的特殊照相方法，称之为立体射线照相法。

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工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影像最清晰。

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要在一张射线探伤底片上同时显示出材料厚度不等的影像，必须采用低电压和荧光增感。

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X射线在大晶粒材料中衍射而引起的一种特殊形式的散射线会使底片上出现（）状影像。

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在分别含有气孔，钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上，比它们周围其他地方看起来较亮的是（）。

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在射线底片上呈现较大面积的树枝形影像是（）。

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透照同一工件，铅箔增感比荧光增感获得的底片清晰度高而对比度低。

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用铱192透照某工件，曝光10分钟可获得理想的底片，150天后，以相同条件用该源透照同一工件时，要获得相同质量的底片需曝光（）分钟。

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