判断题

介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。

A

B

正确答案

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答案解析

相似试题
  • 测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()

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  • 在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

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  • 现场用西林电桥测量设备绝缘的介质损耗因数,出现试验电源与干扰电源不同步,电桥测量无法平衡时,应采用的正确方法是()

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  • 在有强电场干扰的现场,测量试品介质损耗因数tgδ,有多种抗干扰测量方法,并各有一定的局限性,但下列项目()的说法是错的

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  • 对高压电容式绝缘结构的套管、互感受器及耦合电容器,不仅要监测其绝缘介质损耗因数,还要监测其电容量的相对变化。

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  • 当设备各部分的介质损耗因数差别较大时,其综合的g∮值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数值。

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  • 若设备组件之一的绝缘试验值为tgδ1=5%,C1=250pF;而设备其余部分绝缘试验值为tgδ2=0.4%,C2=10000pF,则设备整体绝缘试验时,其总的tgδ值与()接近

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  • 现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。

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