在使用平晶时，如果用手触摸平晶时间过长，会使平晶平面度（）。

在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。

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千分尺的两工作面，如果其中一个工作面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平行平晶检定时，所需平行平晶的块数为（）。

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将平面平晶放在工件表面上，如果工件表面是标准平面，则产生的干涉条纹是（）；如果工件表面呈凸、凹，则将看到若干个（）条纹。

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用平行平晶来检定杠杆式卡规，两测量面的平行度，检定所需平晶数的（）。

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用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。

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检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？

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在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。

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如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？

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对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

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