A硫
B钡
C锂
D铝
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。
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X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁,加入()元素做内标来抵消熔样过程中的各种干扰,确保全铁测定准确。
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X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。
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X射线荧光光谱分析的试样,可以是固态,也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
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X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。
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波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是()计数器,用于探测轻元素X射线荧光是()正比计数器,封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()
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应用X射线荧光光谱分析轻元素时,由于轻元素()所以要选用粗准直器。
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波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
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