单选题

按JB/T4730.5-2005标准,荧光渗透检测去除操作时,在紫外线灯照射下采用边观察边去除的方式,这是为了()

A便于观察缺陷显示

B提高观察时的背景可见光照度

C便于观察显示形成过程

D防止过度去除,同时防止去除不足

正确答案

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答案解析

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