单选题

按JB/T4730.5-2005标准，荧光渗透检测去除操作时，在紫外线灯照射下采用边观察边去除的方式，这是为了（）

A便于观察缺陷显示

B提高观察时的背景可见光照度

C便于观察显示形成过程

D防止过度去除，同时防止去除不足

正确答案

来源：www.examk.com

答案解析

略

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