在火花光源作用下，金属试样中分析元素的谱线强度并不能在试样激发后立即达到稳定，而须经过一段时间方趋于稳定，这种现象称为（）
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在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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在发射光谱分析中，仪器所测得的谱线是原子（）过程中产生的。
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在ICP光谱分析中测量200nm以下波长的谱线时，分光室应该（）
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特征X射线光谱谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
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波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
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每种元素的特征X射线，包含一系列波长确定的谱线，且其强度比也是确定的，当Kα线强度为5kcps时，Kβ线的强度约为（）。
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发射光谱分析中，对难激发的元素可选用火花光源。
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