长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）。

长轴类锻件从端面作轴向检测时，容易出现的非缺陷回波是（）

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（）是由于在探测衰减小的材料时，使用过高的重复频率，在检查大锻件时容易出现的情况。

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当锻件探测厚度大于（）时，应从相对两端面探伤。

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锻件接触法探测中，如果探伤仪的“（）”调得过高，可能发生“（）”。

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对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。（）

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锻件原则上应从（）方向进行探伤，尽可能地探测到（）。

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对饼形锻件，采用纵波直探头作径向探测是最佳检测方法

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直探头从端部探测细棒状工件时，在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生（）所致。

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方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。

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