简答题

一轴晶垂直光轴干涉图怎样测量光性?

正确答案

利用一轴晶垂直光轴切面干涉图测光性:四个象限为一级灰干涉色时,使用石膏板补色器,从Ⅱ-Ⅳ象限插入,Ⅱ-Ⅳ象限干涉色升高(变兰)为负光性,降低(变黄)为正光性。四个象限出现同心色环时,使用石英楔补色器,以无字端从Ⅱ-Ⅳ象限插入,Ⅱ-Ⅳ象限干涉色环外移,为正光性,干涉色环内移,为负光性。

答案解析

相似试题
  • 作图:负光性一轴晶垂直光轴切片干涉图中各部分光的振动方向

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  • 一轴晶平行光轴切面的干涉图与二轴晶平行光轴面切面的干涉图特点完全一样,在轴性明确的情况下也不能用作光性正负的测定。

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  • 一轴晶垂直光轴干涉图的形象特点是:视域中出现(),(),当双折射率较大或薄片较厚时,还具有以黑十字交点为中心的同心圆环,旋转物台360°,此干涉图不变。以此干涉图来测定光性,从Ⅱ-Ⅳ象限象限插入补色器,Ⅰ-Ⅲ象限象限干涉色升高为正光性

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  • (23)在一轴晶(-)中垂直光轴切面的干涉图,其波向图中放射线和切线的方向分别为()。

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  • 二轴晶垂直光轴切面的干涉图用途有:确定轴性、光性、切面方向和估计折射率的大小。

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  • 当双折率很小时,一轴晶垂直光轴切面的干涉图由()组成,这样的切面而在单偏光镜下所产生的颜色由()的振动引起。

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  • 二轴晶垂直光轴切面干涉图的用途有(),()和()。

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  • 一个二轴晶矿物,2V=89°,当切面为垂直光轴时,其干涉图特征为()。

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  • 一轴晶平行光轴的干涉图中,加入试板后,视域内干涉色降低,即异名半径平行,可证明()

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