用任何方法作超声波探伤时，为有效地检出缺陷，应使超声波束与缺陷最大表面平行。

用任何方法作超声探伤时，为有效地检测缺陷应使（）。

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在磁粉探伤中，为能有效地检出环行工件圆周方向的缺陷，选用磁化方法时应用（）。

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在磁粉探伤中，为能有效地检出环行工件圆周方向的缺陷，选用磁化方法时，应用（）。

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任何一种超声波探伤方法中，正确地解释和评价缺陷回波是很重要的，通常使用的评价缺陷尺寸的方法是（）。

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任何一种超声波探伤方法中，正确地解释和评价缺陷回波都是很重要的，通常使用的评价缺陷尺寸的方法有：（）

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（）系指超声波探伤工件时在最大测距上可以检出缺陷的最小尺寸。

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为有效的发现工件内部的片状缺陷，在射线探伤法和超声波探伤法二者之间，选用（）方法最合适。

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只用一个晶片兼作发射和接收超声波的探伤方法称单探头法探伤。

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垂直法超声波探伤，检出效果最佳的缺陷是与（）的缺陷。

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