A上、下控制限呈“城墙”状,使用不方便,不如换用C控制图
B上、下控制限呈“城墙”状,表明此生产流程存在异常
C中心线数值“2.532”表示所抽取的每片芯片之平均缺陷数
D上、下控制限呈“城墙”状,表明每天抽样芯片数不同
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