为提高透入工件的超声波能量，在探头和探测面间施加一种介质，这种介质称为（）。

在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？

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在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。

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在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。

判断题查看答案

接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。

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接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。

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探测面曲率愈大，宜用芯片尺寸（）的探头，它可使透入试件的声能损耗减小。

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频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。

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探头在工件探测面上用手工或自动移动的过程，称为（）。

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探测表面不太平整，曲率较大的工件时，为减少（），宜选用（）探头。

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