A可用来测定磁粉探伤系统的综合性能和磁粉性能；
B零件磁化后贴置在磁化范围内；
C须将无槽的一面贴向探伤面；
D可以了解探伤面上的磁场方向和大小；
EA和D
下列关于灵敏度标准试片使用的叙述中，正确的是（）
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下列关于使用A型灵敏度试片的叙述中，正确的是（）
下列叙述中标准试片使用不正确是（）。
型灵敏度标准试片是在剩磁法下使用的
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A型灵敏度标准试片是在连续法下使用的
如何正确使用灵敏度试片？
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