技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。

高度游标卡尺量爪测量面的平面度用（）刀口直尺检定，底座工作面用（）刀口直尺以光隙法检定。

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平面度误差按干涉条纹的圈数n乘以光波波长（）计算

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平尺在检测中被用作直线基准，可测量（）或（），测量导轨或大平面的直线度或平面度时，经常与方箱或垫铁组合，也可以作为（）使用。

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卡尺研磨器的平面度和（）是修复卡尺测量面的先决条件

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测量面的平面度应该在工作面的（）、（）和（）位置上进行。

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高度卡尺量爪测量面的平面度误差不得大于（）

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平板和平尺除可以作平面或直线基准外，用涂色法可以检验工件的平面度或直线度。

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外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定

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外径千分尺测量面平行度，可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时，应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块，其尺寸间隔为测杆的（）的四块量块。

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