晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法叫做（）。

芯片与探测面平行，使超声波垂直与探测进入材料的检验方法称为（）。

单选题查看答案

探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。

单选题查看答案

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。

判断题查看答案

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。

填空题查看答案

直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。

单选题查看答案

若须对一个与探测面成一定倾斜角度的缺陷正确评价，为使波束垂直射及缺陷的最大表面，则要（）。

单选题查看答案

斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。

判断题查看答案

接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。

填空题查看答案

使用与探测面相垂直的超声波束进行探伤的方法，称为（）。

单选题查看答案