简答题

如图所示,为P型半导体MIS结构形成的能带图。 判断其表面空间电荷层的状态(多子积累、少子耗尽、少子反型)

正确答案

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答案解析

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  • P型半导体MIS结构中发生少子反型时,表面的导电类型与体材料的类型()。在如图所示MIS结构的C-V特性图中,代表去强反型的()。

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  • P型半导体是向本征半导体中参入低价元素形成的。P型半导体中的导电粒子为()。本征半导体的费米能级位于导带与禁带的中间。费米能级的位置随电子浓度的增加而()。

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  • 半导体中有()和()两种载流子,在本征半导体中掺着()阶元素,可形成P型半导体。

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  • n型半导体过渡金属氧化物催化剂和p型半导体过渡金属氧化物催化剂的形成各有哪几种方式?

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  • P型半导体的多子为()、N型半导体的多子为()、本征半导体的载流子为()。

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  • 在纯净的硅中加入()合成为P型半导体。

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