A一次X射线
B二次X射线
C次级射线
DX荧光
X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子的能量激发,第二步则是以特征X射线(荧光)的形式放出能量。
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在X射线荧光分析法中,X荧光是指()。
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X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度直接影响()
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在X射线荧光分析中,一个理想的待测固体试样应满足()
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在X射线荧光光谱分析法中,除存在谱线重迭干扰外还存在()干扰。
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在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()
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X射线荧光分析连续X射线中短波限与()有关。
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在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
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