（）仪表用来测试光纤中继段总衰减。
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『（）』仪表用来测试光纤中继段总衰减。
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G652的光纤最小衰减点（）。
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G652光纤（B1）1310nm波长的衰减平均值（）
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G652光纤（B1）1550nm波长的衰减平均值（）
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中继段光缆线路的衰减测量方法有（）。
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中继段光纤传输特性测试，主要是进行光纤线路损耗特性的测量。（）
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中继段光纤线路损耗,是指中继段两端由ODF架外线侧连接插件之间,包括、
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中继段备用光纤不良衰耗点测试后（）一个月内修复
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