判断题

提高探头频率,增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力

A

B

正确答案

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答案解析

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  • 探头指向角是晶片尺寸和介质中波长的函数。它随频率增加、晶片直径减小而增大。

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  • 探头指向角是晶片尺寸和介质中波长的()。它随频率的增加、晶片直径的减小而()。

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  • ()是晶片尺寸和介质中波长的函数。它随频率的增加、晶片直径的减小而增大。

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