荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（）。

利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时，AsKα线与PbLα线有干扰，则应选择（）线进行分析。

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原子吸收和原子荧光分析的光谱干扰比火焰发射分析法的光谱干扰（）。

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原子光谱（发射、吸收与荧光）三种分析方法中均很严重的干扰因素是（）。

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X射线荧光光谱仪探测器的主要技术指标是（）。

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AxiosX荧光光谱仪有很多限位装置，主要是通过（）来控制的。

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X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。

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在X射线荧光光谱分析中，制作玻璃片使用的坩埚及模具的材料主要是（）其比例是95%：5%。

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原子吸收光谱法中的物理干扰可用下述哪种方法消除。（）。

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原子荧光与原子吸收光谱仪结构上的主要区别在（）。

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