X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.

X一射线荧光分析仪可测定宝石的化学成分和含量。

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X射线荧光光谱仪可分为（）类。

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波谱仪（WDS）、能谱仪（EDS）和X光荧光（XRF）光谱仪是否可以查明钻石样品中的碳和氮含量（）和合成钻石中镍的含量（）。

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X光荧光（XRF）光谱仪在宝玉石学中的应用有①（）、②（）、③（）、④（）、⑤（）等。

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X光荧光（XRF）光谱产生的原因是（）。两种谱仪一种是（），另一种是（）。它们与波谱仪（WDS）和能谱仪（EDS）的区别是（）。

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在扫描电镜中的高能电子束与样品互相作用后，从样品中激发出各种信息。对于宝石工作者最常用的是哪3中信息：（）、（）、（）。

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在使用折射仪时转动样品180度获得2条移动的折射线我们可得结论为（）。

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荧光和磷光与矿物晶格中的（）有关。

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X射线的散射分为（）和（）散射两种。相干的光子进行相互干涉并产生一些（）现象。

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