试论在作冲击高压闪络测试时冲击电压的选择。

（1）电阻冲闪法虽然具有波形前后沿陡峭便于读数的优点，但不是每一种情况都能用电阻冲闪法的。在用电阻作冲击闪络测试的取样元件时，电阻R是与电缆特性阻抗Z。串联的，由于电阻分压元件的作用（往往R＞Z），真正在电缆上等到的冲击电压是远小于电源送出的冲击电压的，所以往往用电感冲闪法时，故障点不一定能击穿。但如果去掉电阻而换上电感，或根本不用取样电感，故障点便容易击穿了。
（2）一般来说，在作冲击闪络测试时，用电阻取样，电缆上得到的电压最小；用电感取样，电缆上得到的电压就大得多。而当在电缆一端打火，去终端测试时，由于高压设备贮能电容上供出的电压未经电感或电阻分压，电缆上承受的电压纯粹为电容器C上的贮存电压，因此故障点是容易击穿的。
综上所述，在用电阻取样作冲击闪络测试时，冲击电压不妨可以加高些。而在作终端测试时，冲击电压不能超过直流试验电压的4/5，以免损坏电缆。

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