改善透照底片几何不清晰度可采用（）透照方法。

X射线透照探伤，影响底片清晰度的因素是（），（）。

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X射线管的焦点小，透照灵敏度（），底片清晰度（）。

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在射线探伤中，影响缺陷检测的因素很多，除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、（）、射线的入射方向及透照厚度差等。

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用X射线透照检验，管电流5mA，6分钟得到合格底片，其它条件不变，管电流增加为10mA，曝光时间为（）分钟。

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底片黑度范围，在胶卷特性曲线的适当曝光区，透照底片（）。

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在射线透照探伤中，底片黑度值可用（）测定。

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影响透照灵敏度的因素是（）、（）。

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影响透照灵敏度的因素是（）。

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焊缝射线透照照片上呈园形的黑点是（）缺陷。

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