光纤活动连接中，端接损耗过高的原因主要体现在（）。

单模光纤连接损耗的产生原因中，影响最大的本征因素是（　），当采用熔接法接续时，影响连接损耗的外界因素主要是轴向倾斜，（）（）

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光纤活动连接器的技术要求插入损耗（），反射回波损耗（）。

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多模光纤活动连接时，插入损耗要求小于（）。

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影响光纤连接损耗的原因可归纳为（）。

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一个光纤的活动连接器接续损耗一般在（）dB以内

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单模光纤连接损耗的外界因素主要有（）。

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光纤活动连接器的互换测试就是指定某一适配器与其他跳线组成新的连接器进行（　）和反射损耗的测试。

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部分单体电池在充电、放电过程中温度过高的主要原因有（）。

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部分单体电池在充电、放电过程中温度过高的主要原因有（）。

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