A对
B错
采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片。
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接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。
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较小的探头晶片尺寸发射的超声波束,其远场覆盖面积()。
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晶片尺寸较小的探头发射的超声波束,其远场覆盖面积()。
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选择较小尺寸的探头晶片探伤()。
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斜探头近场区长度是按晶片在投影后的有效面积计算。
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探头晶片面积相同,高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。
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探头晶片尺寸大,辐射的超声波能量(),探头未扩散区扫查范围大,远距离扫查范围相对变小,发现远距离缺陷能力增强。
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探头晶片尺寸大,辐射的超声波能量大,探头未扩散区扫查范围大,远距离扫查范围相对变小,发现远距离缺陷能力增强。
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