产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两端光纤轴向偏移，纵向间隙，端面分离，轴向倾斜，光纤端面不整齐和污染。

产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两光纤芯径失配，同心度不良，数值孔径失配等，造成漏光。

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光纤衰耗、接头损耗的测量，实际上也是测量光纤两端的（）。

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造成光纤衰减的主要因素有：本征、（）、挤压、杂质，不均匀和对接等。

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光纤中继段多模光纤（1300nm波长）接头损耗平均值不应（）dB/处。

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用于测量绝对光功率或通过一段光纤的光功率相对损耗的仪表是（）。

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（）是制造光纤的材料本身造成的，其中的过量金属杂质和氢氧根OH离子对光的吸收而产生的损耗。

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光纤损耗中三个低损耗窗口中短波段指（）

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光纤损耗中三个低损耗窗口中长波段指（）

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目前，光纤在（）nm处的损耗可以做到0.2dB/nm左右，接近光纤损耗的理论极限值。

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